AN AUTOMATIC TEST SET FOR THE DYNAMIC CHARACTERIZATION OF A/D CONVERTERS

被引：8

作者：

SOUDERS, TM

FLACH, DR

WONG, TC

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TIM.1983.4315037

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：180 / 186

页数：7

共 5 条

[1] HIGH-RESOLUTION ERROR PLOTTER FOR ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTERS [J].

CORCORAN, JJ ;

HORNAK, T ;

SKOV, PB .

[2] HIGH-ACCURACY SETTLING TIME MEASUREMENTS [J].

SCHOENWETTER, HK .

SOUDERS, TM ;

FLACH, DR .

[4] A DYNAMIC TEST METHOD FOR HIGH-RESOLUTION A D CONVERTERS [J].

SOUDERS, TM .

[5]

SOUDERS TM, 1981, NBS1145 TECH NOT