TOPOLOGY OF SILICON STRUCTURES WITH RECESSED SIO2

被引:102
作者
BASSOUS, E [1 ]
YU, HN [1 ]
MANISCALCO, V [1 ]
机构
[1] IBM CORP, THOMAS J WATSON RES CTR, YORKTOWN HTS, NY 10598 USA
关键词
D O I
10.1149/1.2132680
中图分类号
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
081704 ;
摘要
引用
收藏
页码:1729 / 1737
页数:9
相关论文
共 23 条