A NOVEL X-RAY-SCATTERING DIFFRACTOMETER FOR STUDYING SURFACE-STRUCTURES UNDER UHV CONDITIONS

被引:67
作者
BRENNAN, S [1 ]
EISENBERGER, P [1 ]
机构
[1] EXXON RES & ENGN CO,LINDEN,NJ 07036
关键词
D O I
10.1016/0167-5087(84)90521-0
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
引用
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页数:4
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