INFLUENCE OF HEAT TREATMENTS AND IONIZING IRRADIATIONS ON CHARGE DISTRIBUTION AND NUMBER OF SURFACE STATES IN SI-SIO2 SYSTEM

被引：33

作者：

KOOI, E

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/T-ED.1966.15675

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：238 / +

页数：1

共 15 条

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