PHASE TOMOGRAPHY IN THE CORRECTED ELECTRON-MICROSCOPE

被引：5

作者：

SCHERZER, O

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(82)90223-6

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：9 / 15

页数：7

共 23 条

[1]

BERNHARD W, 1980, OPTIK, V57, P73

[2]

BURGE RE, 1977, ULTRAMICROSCOPY, V2, P169

[3]

COSSLETT VE, 1979, ADV STRUCTURE RES DI, V7, P81

[4] REDUCTION OF BEAM DAMAGE BY CRYOPROTECTION AT 4K [J].

DUBOCHET, J ;

KNAPEK, E ;

DIETRICH, I .

[5]

FERTIG J, 1979, OPTIK, V54, P165

[6]

FEY G, 1980, OPTIK, V55, P55

[7]

FUJIME M, 1981, EUR UROL, V7, P189

FUJIYOSHI, Y ;

KOBAYASHI, T ;

ISHIZUKA, K ;

UYEDA, N ;

ISHIDA, Y ;

HARADA, Y .

[9]

HAIDER M, 1981, 20TH C EL MICR INNSB

[10]

HELY H, 1982, OPTIK, V60, P307