ISOELECTRONIC TRAPS DUE TO NITROGEN IN GALLIUM PHOSPHIDE

被引:271
作者
THOMAS, DG
HOPFIELD, JJ
FROSCH, CJ
机构
关键词
D O I
10.1103/PhysRevLett.15.857
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
引用
收藏
页码:857 / &
相关论文
共 4 条