DOUBLE CORRELATION TECHNIQUE (DDLTS) FOR ANALYSIS OF DEEP LEVEL PROFILES IN GAAS AND GAAS0.6P0.4

被引:25
作者
LEFEVRE, H [1 ]
SCHULZ, M [1 ]
机构
[1] FRAUNHOFER GESELL,INST ANGEW FESTKORPERPHYS,D-7800 FREIBURG,FED REP GER
关键词
D O I
10.1109/T-ED.1977.18863
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
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页码:973 / 978
页数:6
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