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EXTRACTION FIELD AND OXIDE CHARGING IN VOLTAGE CONTRAST SYSTEMS
被引:11
作者
:
NYE, P
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0
NYE, P
DINNIS, A
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DINNIS, A
机构
:
来源
:
SCANNING
|
1985年
/ 7卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
10.1002/sca.4950070304
中图分类号
:
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要
:
引用
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页码:117 / 124
页数:8
相关论文
共 3 条
[1]
SECONDARY-ELECTRON DETECTION SYSTEMS FOR QUANTITATIVE VOLTAGE MEASUREMENTS
[J].
MENZEL, E
论文数:
0
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0
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机构:
UNIV DUISBURG GESAMTHSCH,FACHBEREICH ELEKTROTECH,WERKSTOFF ELEKTROTECH,D-4100 DUISBURG,FED REP GER
UNIV DUISBURG GESAMTHSCH,FACHBEREICH ELEKTROTECH,WERKSTOFF ELEKTROTECH,D-4100 DUISBURG,FED REP GER
MENZEL, E
;
KUBALEK, E
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机构:
UNIV DUISBURG GESAMTHSCH,FACHBEREICH ELEKTROTECH,WERKSTOFF ELEKTROTECH,D-4100 DUISBURG,FED REP GER
UNIV DUISBURG GESAMTHSCH,FACHBEREICH ELEKTROTECH,WERKSTOFF ELEKTROTECH,D-4100 DUISBURG,FED REP GER
KUBALEK, E
.
SCANNING,
1983,
5
(04)
:151
-171
[2]
DIGITAL-TECHNIQUES FOR IMPROVED VOLTAGE MEASUREMENTS
[J].
NYE, P
论文数:
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NYE, P
;
DINNIS, AR
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DINNIS, AR
.
SCANNING,
1985,
7
(03)
:113
-116
[3]
Ranasinghe D. W., 1983, Microscopy of Semiconducting Materials 1983. 3rd Oxford Conference, P433
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[1]
SECONDARY-ELECTRON DETECTION SYSTEMS FOR QUANTITATIVE VOLTAGE MEASUREMENTS
[J].
MENZEL, E
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机构:
UNIV DUISBURG GESAMTHSCH,FACHBEREICH ELEKTROTECH,WERKSTOFF ELEKTROTECH,D-4100 DUISBURG,FED REP GER
UNIV DUISBURG GESAMTHSCH,FACHBEREICH ELEKTROTECH,WERKSTOFF ELEKTROTECH,D-4100 DUISBURG,FED REP GER
MENZEL, E
;
KUBALEK, E
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机构:
UNIV DUISBURG GESAMTHSCH,FACHBEREICH ELEKTROTECH,WERKSTOFF ELEKTROTECH,D-4100 DUISBURG,FED REP GER
UNIV DUISBURG GESAMTHSCH,FACHBEREICH ELEKTROTECH,WERKSTOFF ELEKTROTECH,D-4100 DUISBURG,FED REP GER
KUBALEK, E
.
SCANNING,
1983,
5
(04)
:151
-171
[2]
DIGITAL-TECHNIQUES FOR IMPROVED VOLTAGE MEASUREMENTS
[J].
NYE, P
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0
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0
NYE, P
;
DINNIS, AR
论文数:
0
引用数:
0
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0
DINNIS, AR
.
SCANNING,
1985,
7
(03)
:113
-116
[3]
Ranasinghe D. W., 1983, Microscopy of Semiconducting Materials 1983. 3rd Oxford Conference, P433
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