RAMAN MEASUREMENTS OF STRESS IN SILICON-ON-SAPPHIRE DEVICE STRUCTURES

被引:42
作者
BRUECK, SRJ
TSAUR, BY
FAN, JCC
MURPHY, DV
DEUTSCH, TF
SILVERSMITH, DJ
机构
关键词
D O I
10.1063/1.92939
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:895 / 898
页数:4
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