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PREPARATION OF GAAS SPECIMENS FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
被引:5
作者
:
BIEDERMANN, E
论文数:
0
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0
h-index:
0
BIEDERMANN, E
BRACK, K
论文数:
0
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0
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0
BRACK, K
机构
:
来源
:
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY
|
1966年
/ 113卷
/ 10期
关键词
:
D O I
:
10.1149/1.2423761
中图分类号
:
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
:
081704 ;
摘要
:
引用
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页码:1088 / +
页数:1
相关论文
共 2 条
[1]
METHOD OF PREPARING SI AND GE SPECIMENS FOR EXAMINATION BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
BOOKER, GR
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0
BOOKER, GR
STICKLER, R
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引用数:
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0
STICKLER, R
[J].
BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1962,
13
(09):
: 446
-
&
[2]
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE STUDY OF GALLIUM ARSENIDE
MEIERAN, ES
论文数:
0
引用数:
0
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0
MEIERAN, ES
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1965,
36
(08)
: 2544
-
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共 2 条
[1]
METHOD OF PREPARING SI AND GE SPECIMENS FOR EXAMINATION BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
BOOKER, GR
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0
BOOKER, GR
STICKLER, R
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STICKLER, R
[J].
BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1962,
13
(09):
: 446
-
&
[2]
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE STUDY OF GALLIUM ARSENIDE
MEIERAN, ES
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MEIERAN, ES
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1965,
36
(08)
: 2544
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