ON HEAVY-ION INDUCED HARD-ERRORS IN DIELECTRIC STRUCTURES

被引：73

作者：

WROBEL, TF

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1987.4337463

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1262 / 1268

页数：7

共 5 条

[1] COSMIC-RAY INDUCED PERMANENT DAMAGE IN MNOS EAROMS [J].

BLANDFORD, JT ;

WASKIEWICZ, AE ;

PICKEL, JC .

[2]

FLEISCHER RL, 1975, NUCLEAR TRACK SOLIDS

MALVEZZI, AM ;

BLOEMBERGEN, N ;

HUANG, CY .

[4] HEAVY-ION INDUCED PERMANENT DAMAGE IN MNOS GATE INSULATORS [J].

PICKEL, JC ;

BLANDFORD, JT ;

WASKIEWICZ, AE ;

STRAHAN, VH .

[5]

1951, HDB CHEM PHYSICS