SINGLE EVENT UPSET (SEU) OF SEMICONDUCTOR-DEVICES - A SUMMARY OF JPL TEST DATA

被引：17

作者：

NICHOLS, DK

PRICE, WE

MALONE, CJ

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1983年 / 30卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1983.4333164

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：4520 / 4525

页数：6

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共 23 条

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NICHOLS, DK
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