CRYSTAL-GROWTH OF GE STUDIED BY REFLECTION HIGH-ENERGY ELECTRON-DIFFRACTION AND PHOTOEMISSION

被引:8
作者
AARTS, J [1 ]
HOEVEN, AJ [1 ]
LARSEN, PK [1 ]
机构
[1] PHILIPS RES LABS,5600 JA EINDHOVEN,NETHERLANDS
来源
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A-VACUUM SURFACES AND FILMS | 1988年 / 6卷 / 03期
关键词
D O I
10.1116/1.575177
中图分类号
TB3 [工程材料学];
学科分类号
0805 ; 080502 ;
摘要
引用
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页码:607 / 610
页数:4
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