QUANTITATIVE-ANALYSIS OF SILICATE MINERALS BY SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY AND LASER MICROPROBE MASS ANALYSIS - A COMPARATIVE-STUDY

被引:13
作者
BEUSEN, JM
SURKYN, P
GIJBELS, R
ADAMS, F
机构
关键词
D O I
10.1016/0584-8547(83)80183-9
中图分类号
O433 [光谱学];
学科分类号
0703 ; 070302 ;
摘要
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页码:843 / 851
页数:9
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