SUMMARY ABSTRACT - STATE CHARACTERIZATION OF THE HG1-XCDXTE PHOTOX SIO2 INTERFACE

被引：3

作者：

TSAU, GH

SHER, A

MADOU, M

WILSON, JA

COTTON, VA

JONES, CE

机构：

[1] SANTA BARBARA RES CTR, GOLETA, CA 93017 USA

[2] SRI INT, MENLO PK, CA 94025 USA

来源：

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A | 1986年 / 4卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1116/1.574012

中图分类号：

TB3 [工程材料学];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

引用

页码：1983 / 1985

页数：3

共 5 条

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SHER, A ;

HOFFMAN, HJ ;

SU, P ;

TSUO, YH .