HIGH-TEMPERATURE AGING TESTS ON PLANAR STRUCTURE INGAAS INP PIN PHOTODIODES WITH TI/PT AND TI/AU CONTACT

被引：20

作者：

ISHIHARA, H

MAKITA, K

SUGIMOTO, Y

TORIKAI, T

TAGUCHI, K

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1049/el:19840448

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：654 / 656

页数：3

共 6 条

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