TRANSIENT RADIATION UPSET SIMULATIONS OF CMOS MEMORY-CIRCUITS

被引：45

作者：

MASSENGILL, LW

DIEHLNAGLE, SE

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1984年 / 31卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1984.4333507

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1337 / 1343

页数：7

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共 3 条

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