SURFACE OPTICAL-CONSTANTS OF SILICON AND GERMANIUM DERIVED FROM ELECTRON-ENERGY-LOSS SPECTROSCOPY

被引:94
作者
FROITZHEIM, H
IBACH, H
MILLS, DL
机构
[1] KERN FORSCH ANLAGE JULICH GMBH,INST GRENZFLACHEN FORSCH & VAKUUM PHYS,D-5170 JULICH,FED REP GER
[2] UNIV CALIF,DEPT PHYS,IRVINE,CA 92664
来源
PHYSICAL REVIEW B | 1975年 / 11卷 / 12期
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.11.4980
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:4980 / 4988
页数:9
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