A TESTABLE CMOS SYNCHRONOUS COUNTER

被引：3

作者：

KATOOZI, M ^{[1
]}

SOMA, M ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV WASHINGTON,DEPT ELECT ENGN,SEATTLE,WA 98195

来源：

IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS | 1988年 / 23卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1109/4.5951

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1241 / 1248

页数：8

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共 12 条

[11] DESIGN FOR TESTABILITY - A SURVEY [J].

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