EFFECT OF NITROGEN IMPURITY ON FLUORINE AND CHLORINE EMISSION FROM AN ATMOSPHERIC-PRESSURE HELIUM MICROWAVE PLASMA

被引:15
作者
KOIRTYOHANN, SR
机构
关键词
D O I
10.1021/ac00253a044
中图分类号
O65 [分析化学];
学科分类号
070302 ; 081704 ;
摘要
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