POSSIBILITIES OF X-RAY INTERFERENCE DIFFRACTOMETRY FOR THE INVESTIGATION OF ION-DOPED LAYERS

被引：9

作者：

ARISTOV, VV ^{[1
]}

MORDKOVICH, VN ^{[1
]}

NIKULIN, AY ^{[1
]}

SNIGIREV, AA ^{[1
]}

WINTER, U ^{[1
]}

EROKHIN, YN ^{[1
]}

ZAUMSEIL, P ^{[1
]}

机构：

[1] ACAD SCI GDR,INST SEMICONDUCT PHYS,O-1200 FRANKFURT,GERMANY

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1990年 / 120卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1002/pssa.2211200127

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

[No abstract available]

引用

页码：K1 / K5

页数：5

共 6 条

ARISTOV, VV ;

WINTER, U ;

NIKULIN, AY ;

REDKIN, SV ;

SNIGIREV, AA ;

ZAUMSEIL, P ;

YUNKIN, VA .

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH, 1988, 108 (02) :651-655

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