X-RAY TOPOGRAPHIC VISUALIZATION OF AN INTERFACE

被引：5

作者：

SACCOCIO, EJ

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1660778

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：3619 / &

共 11 条

BLECH, IA ;

MEIERAN, ES .

[2]

COLE H, 1959, PHYS REV, V116, P868

[3] STRAIN IN THIN METAL FILMS ON QUARTZ [J].

HARUTA, K ;

SPENCER, WJ .

MEIERAN, ES ;

BLECH, IA .

MEIERAN, ES ;

BLECH, IA .

PHYSICA STATUS SOLIDI, 1968, 29 (02) :653-&

[6]

PENNING P, 1966, PHILIPS RES REP S5, P71

[7]

PENNING P, 1966, PHILIPS RES REP S5, P70

[8]

PENNING P, 1966, PHILIPS RES REP S5

SACCOCIO, EJ .

[10] X-RAY STRESS TOPOGRAPHY OF THIN FILMS ON GERMANIUM AND SILICON [J].

SCHWUTTK.GH ;

HOWARD, JK .