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NEW TECHNOLOGY FOR TAPERED WINDOWS IN INSULATING FILMS
被引:6
作者
:
ONO, H
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机构:
Toshiba Corporation, Toshiba Research and Development Center, Kawasaki
ONO, H
TANGO, H
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机构:
Toshiba Corporation, Toshiba Research and Development Center, Kawasaki
TANGO, H
机构
:
[1]
Toshiba Corporation, Toshiba Research and Development Center, Kawasaki
来源
:
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY
|
1979年
/ 126卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
10.1149/1.2129073
中图分类号
:
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
:
081704 ;
摘要
:
[No abstract available]
引用
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页码:504 / 506
页数:3
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TAPERED WINDOWS IN PHOSPHORUS-DOPED SIO2 BY ION-IMPLANTATION
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ADAMS, AC
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ADAMS, AC
.
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES,
1978,
25
(07)
:809
-812
[2]
ONO H, UNPUBLISHED
[3]
TAPERED WINDOWS IN SIO2 - EFFECT OF NH F-HF DILUTION AND ETCHING TEMPERATURE
[J].
PARISI, GI
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机构:
BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
PARISI, GI
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HASZKO, SE
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BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
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HASZKO, SE
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ROZGONYI, GA
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BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
ROZGONYI, GA
.
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY,
1977,
124
(06)
:917
-921
[4]
LOW-TEMPERATURE SILICON-NITRIDE DEPOSITION USING MICROWAVE-EXCITED ACTIVE NITROGEN
[J].
SHIBAGAKI, M
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YAMAZAKI, T
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YAMAZAKI, T
.
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1978,
17
:215
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TAPERED WINDOWS IN PHOSPHORUS-DOPED SIO2 BY ION-IMPLANTATION
[J].
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1978,
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:809
-812
[2]
ONO H, UNPUBLISHED
[3]
TAPERED WINDOWS IN SIO2 - EFFECT OF NH F-HF DILUTION AND ETCHING TEMPERATURE
[J].
PARISI, GI
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1977,
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YAMAZAKI, T
.
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1978,
17
:215
-221
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