DETECTION OF RECOMBINATION CENTERS IN SOLAR-CELLS FROM JUNCTION CAPACITANCE TRANSIENTS

被引：17

作者：

SAH, CT ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV ILLINOIS,DEPT ELECT ENGN,CHICAGO,IL 60680

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | 1977年 / 24卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1109/T-ED.1977.18749

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：410 / 419

页数：10

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