TRAP SPECTROSCOPY OF A-SI-H DIODES USING TRANSIENT CURRENT TECHNIQUES

被引：32

作者：

CRANDALL, RS

机构：

来源：

JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS | 1980年 / 9卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1007/BF02652892

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

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页码：713 / 726

页数：14

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共 12 条

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