FLUCTUATIONS IN SUBMICROMETER SEMICONDUCTING DEVICES CAUSED BY THE RANDOM POSITIONS OF DOPANTS

被引:45
作者
DAVIES, JH
NIXON, JA
机构
来源
PHYSICAL REVIEW B | 1989年 / 39卷 / 05期
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.39.3423
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:3423 / 3426
页数:4
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