UNIFORM DEPTH PROFILING IN X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY (ELECTRON-SPECTROSCOPY FOR CHEMICAL-ANALYSIS)

被引：10

作者：

BRADLEY, L

BOSWORTH, YM

BRIGGS, D

GIBSON, VA

OLDMAN, RJ

EVANS, AC

FRANKS, J

机构：

[1] ICI LTD,MOND DIV,CORP LAB,RUNCORN,CHESHIRE,ENGLAND

[2] ION TECH LTD,TEDDINGTON,MIDDLESEX,ENGLAND

来源：

APPLIED SPECTROSCOPY | 1978年 / 32卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1366/000370278774331468

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

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页码：175 / 177

页数：3

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共 6 条

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