Absolute x-ray wave-lengths by refraction in quartz

被引:7
作者
Bearden, JA [1 ]
Shaw, CH [1 ]
机构
[1] John Hopkins Univ, Rowland Phys Lab, Baltimore, MD USA
来源
PHYSICAL REVIEW | 1934年 / 46卷 / 09期
关键词
D O I
10.1103/PhysRev.46.759
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
引用
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页码:0759 / 0763
页数:5
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共 12 条
[11]   The use of the refraction of x-rays for the determination of the specific charge of the electron [J].
Stauss, HE .
PHYSICAL REVIEW, 1930, 36 (07) :1101-1108