POSITION RESOLVED CARRIER LIFETIME MEASUREMENTS IN SILICON POWER DEVICES BY TIME RESOLVED PHOTOLUMINESCENCE SPECTROSCOPY

被引：4

作者：

BOHNERT, G

HACKER, R

HANGLEITER, A

机构：

来源：

JOURNAL DE PHYSIQUE | 1988年 / 49卷 / C-4期

关键词：

D O I：

10.1051/jphyscol:19884128

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：617 / 620

页数：4

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共 3 条

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