MARGIN DEGRADATION IN LONG-TERM TESTING OF 3 MU-M BUBBLE-DEVICES

被引:5
作者
MATSUYAMA, S [1 ]
ORIHARA, S [1 ]
IWASA, S [1 ]
YAMAGISHI, K [1 ]
机构
[1] FUJITSU LABS LTD,KAWASAKI,JAPAN
关键词
D O I
10.1109/TMAG.1977.1059661
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
收藏
页码:1586 / 1591
页数:6
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