MARGIN DEGRADATION IN LONG-TERM TESTING OF 3 MU-M BUBBLE-DEVICES

被引：5

作者：

MATSUYAMA, S ^{[1
]}

ORIHARA, S ^{[1
]}

IWASA, S ^{[1
]}

YAMAGISHI, K ^{[1
]}

机构：

[1] FUJITSU LABS LTD,KAWASAKI,JAPAN

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS | 1977年 / 13卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1109/TMAG.1977.1059661

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1586 / 1591

页数：6

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