PROXIMITY PARAMETERS DETERMINATION FOR ELECTRON-BEAM LITHOGRAPHY USING A NOVEL TECHNIQUE

被引：11

作者：

SHAW, CH

机构：

来源：

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY | 1981年 / 19卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1116/1.571261

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：1286 / 1290

页数：5

共 8 条

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