DERIVATION OF MINIMUM TEST SETS FOR UNATE LOGICAL CIRCUITS

被引：36

作者：

BETANCOURT, R

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/T-C.1971.223126

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：1264 / +

页数：1

共 5 条

ARMSTRONG, DB .

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRONIC COMPUTERS, 1966, EC15 (01) :66-+

[2] TECHNIQUES FOR DIAGNOSIS OF SWITCHING CIRCUIT FAILURES [J].

GALEY, JM ;

ROTH, JP ;

NORBY, RE .

IEEE TRANSACTIONS ON COMMUNICATION AND ELECTRONICS, 1964, 83 (74) :509-&

[3]

Poage J. F., 1963, PROCEEDING S MATH TH, P483

[4] DIAGNOSIS OF AUTOMATA FAILURES - A CALCULUS AND A METHOD [J].

ROTH, JP .

[5] ANALYZING ERRORS WITH BOOLEAN DIFFERENCE [J].

SELLERS, FF ;

HSIAO, MY ;

BEARNSON, LW .