FAILURE MECHANISMS IN GUNN DIODES

被引：21

作者：

JEPPSSON, B

MARKLUND, I

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1049/el:19670165

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：213 / +

页数：1

共 7 条

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