OPTICAL FLATS FOR USE IN X-RAY SPECTROCHEMICAL MICROANALYSIS

被引：274

作者：

YONEDA, Y

HORIUCHI, T

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1685282

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：1069 / &

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共 5 条

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PFEIFFER, HG
ZEMANY, PD
[J]. NATURE, 1954, 174 (4426) : 397 - 397
[2] CHEMICAL ANALYSIS OF THIN FILMS BY X-RAY EMISSION SPECTROGRAPHY
RHODIN, TN
[J]. ANALYTICAL CHEMISTRY, 1955, 27 (12) : 1857 - 1861
[3] SHIRAIWA T, 1968, ADV XRAY ANAL, V11, P95
[4] WARREN RE, 1965, J APPL PHYS, V36, P324
[5] ANOMALOUS SURFACE REFLECTION OF X RAYS
YONEDA, Y
[J]. PHYSICAL REVIEW, 1963, 131 (05): : 2010 - &