COMPARISON OF MEMORY SWITCHING OPERATION IN A NUMBER OF AMORPHOUS-CHALCOGENIDE SYSTEMS

被引：12

作者：

DARGAN, CL

BURTON, P

PHILLIPS, SV

BLOOR, AS

NESVADBA, P

机构：

[1] GEC LTD,HIRST RES CTR,CENT RES LABS,WEMBLY,ENGLAND

[2] GEC POWER ENGN LTD,MAT LAB,STAFFORD,ENGLAND

来源：

关键词：

D O I：

10.1007/BF00540757

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：1595 / 1601

页数：7

共 5 条

[1]

ADLER D, 1972, J VAC SCI TECHNOL, V9, P1182, DOI 10.1116/1.1317009

BOSNELL, JR ;

THOMAS, CB .

[3] THERMAL BREAKDOWN AND SWITCHING IN CHALCOGENIDE GLASSES [J].

BURTON, P ;

BRANDER, RW .

[4]

NEALE RG, 1970, S ELECTROTECHNICAL G, P1

[5]

OVSHINSKY SR, 1973, IEEE T ELECTRON DEVI, VED20, P91