GROWTH AND MORPHOLOGY OF 6H-SIC EPITAXIAL LAYERS BY CVD

被引:43
作者
NISHINO, S
MATSUNAMI, H
TANAKA, T
机构
关键词
D O I
10.1016/0022-0248(78)90426-8
中图分类号
O7 [晶体学];
学科分类号
0702 ; 070205 ; 0703 ; 080501 ;
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共 12 条
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NISHIZAWA, J ;
KATO, Y ;
SHIMBO, M .
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 1975, 31 (DEC) :290-298
[12]  
WESSELS B, 1974, SILICON CARBIDE 1973, P25