NEUTRON-GAMMA INDUCED DAMAGE MECHANISMS AND SYNERGISTIC EFFECTS IN GAAS-MESFETS

被引:23
作者
CHANG, JY [1 ]
BADAWI, MH [1 ]
DECICCO, A [1 ]
机构
[1] TACHON CORP,PLAINSBORO,NJ 08536
关键词
D O I
10.1109/23.45406
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
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页码:2068 / 2075
页数:8
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