具有边缘结构的半导体器件

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专利类型
发明
申请号
CN03814932.X
申请日
2003-06-13
公开(公告)号
CN100367510C
公开(公告)日
2005-08-31
发明(设计)人
R·范达伦 C·罗切福特
申请人
申请人地址
荷兰艾恩德霍芬
IPC主分类号
H01L2941
IPC分类号
H01L2906
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司
代理人
王新华
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
具有边缘终端结构的半导体器件 [P]. 
F.希尔勒 ;
A.毛德 ;
H-J.舒尔策 .
中国专利 :CN103227193B ,2013-07-31
[2]
具有边缘终止结构的半导体器件 [P]. 
G.施密特 ;
E.法尔克 .
中国专利 :CN111834444A ,2020-10-27
[3]
具有边缘终止结构的半导体器件 [P]. 
G.施密特 ;
E.法尔克 .
德国专利 :CN111834444B ,2024-10-18
[4]
具有边缘终止结构的碳化硅半导体器件 [P]. 
L.韦尔汉-基利安 ;
R.埃尔佩尔特 ;
R.鲁普 ;
R.西米尼克 ;
B.齐佩留斯 .
中国专利 :CN109841665A ,2019-06-04
[5]
具有边缘终止结构的半导体器件及其制造方法 [P]. 
R·J·格罗维 .
中国专利 :CN100485960C ,2006-07-05
[6]
具有沟槽边缘终端结构的半导体器件 [P]. 
齐亚·侯赛因 .
中国专利 :CN101241933A ,2008-08-13
[7]
具有边缘端部结构的沟槽半导体器件及其制造方法 [P]. 
王培林 ;
陈菁菁 ;
E·D·德弗莱萨特 .
中国专利 :CN103426738B ,2013-12-04
[8]
功率半导体器件边缘结构 [P]. 
E·法尔克 ;
H-J·舒尔策 ;
A·施韦格曼 .
中国专利 :CN106328712A ,2017-01-11
[9]
具有屏蔽结构的半导体器件 [P]. 
E·法尔克 ;
K·布赫霍尔茨 ;
M·戴内塞 ;
H-J·舒尔策 ;
G·施密特 ;
F·翁巴赫 .
中国专利 :CN105374856B ,2016-03-02
[10]
半导体器件边缘终端结构及方法 [P]. 
加里·H·莱厄切尔特 ;
彼得·J·兹德贝尔 ;
戈登·M·格里芙娜 .
中国专利 :CN1822390A ,2006-08-23