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光学式粒子检测装置以及粒子的检测方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201310247288.8
申请日：
2013-06-20
公开(公告)号：
CN103512863A
公开(公告)日：
2014-01-15
发明(设计)人：
衣笠静一郎
申请人：
申请人地址：
日本东京都千代田区丸之内2丁目7番3号东京大楼
IPC主分类号：
G01N2153
IPC分类号：
G01N2164
代理机构：
上海市华诚律师事务所 31210
代理人：
肖华
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2014-01-15 | 公开 | 公开 |
| 2016-08-03 | 发明专利申请公布后的视为撤回 | 发明专利申请公布后的视为撤回 号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101736558268 IPC(主分类):G01N 21/53 专利申请号:2013102472888 申请公布日:20140115 |
| 2014-02-19 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101571922347 IPC(主分类):G01N 21/53 专利申请号:2013102472888 申请日:20130620 |