粒子检测装置以及粒子检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410206025.7

申请日：

2014-05-15

公开(公告)号：

CN104165826A

公开(公告)日：

2014-11-26

发明(设计)人：

村上久弥

申请人：

申请人地址：

日本东京都千代田区丸之内2丁目7番3号东京大楼

IPC主分类号：

G01N1500

IPC分类号：

G01N1506

代理机构：

上海市华诚律师事务所 31210

代理人：

肖华

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-12-24	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101592947699 IPC(主分类):G01N 15/00 专利申请号:2014102060257 申请日:20140515
2016-11-30	授权	授权

共 50 条

[1]

光学式粒子检测装置以及粒子的检测方法 [P].

衣笠静一郎 .

中国专利 :CN103424343A ,2013-12-04

[2]

光学式粒子检测装置以及粒子的检测方法 [P].

衣笠静一郎 .

中国专利 :CN103512863A ,2014-01-15

[3]

粒子检测方法以及粒子检测设备 [P].

齐藤进 ;

矶崎久 ;

柿沼隆司 ;

西冈范刚 ;

野田启 .

中国专利 :CN1789971B ,2006-06-21

[4]

粒子检测系统以及粒子检测方法 [P].

安池则之 ;

中川贵司 ;

川人圭子 ;

永谷吉祥 .

中国专利 :CN111051853B ,2020-04-21

[5]

粒子检测装置及粒子检测方法 [P].

细居智树 ;

小原太辅 ;

古谷雅 ;

衣笠静一郎 .

中国专利 :CN105203445B ,2015-12-30

[6]

粒子检测装置和粒子检测方法 [P].

饭岛和树 ;

丰岛俊薫 ;

古川琴浩 ;

片山晃治 ;

神尚孝 ;

关实 .

中国专利 :CN110506201B ,2019-11-26

[7]

粒子检测装置及粒子检测方法 [P].

细居智树 ;

小原太辅 ;

古谷雅 ;

衣笠静一郎 .

中国专利 :CN105223112B ,2016-01-06

[8]

粒子检测器、粒子检测装置及粒子检测方法 [P].

山根武 .

中国专利 :CN114112863A ,2022-03-01

[9]

粒子检测装置以及粒子检测装置的检查方法 [P].

古谷雅 ;

小原太辅 .

中国专利 :CN109073531B ,2018-12-21

[10]

粒子检测系统以及粒子的检测方法 [P].

古谷雅 ;

小原太辅 .

中国专利 :CN107091795A ,2017-08-25

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