粒子检测装置及粒子检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510355698.3
申请日
2015-06-24
公开(公告)号
CN105223112B
公开(公告)日
2016-01-06
发明(设计)人
细居智树 小原太辅 古谷雅 衣笠静一郎
申请人
申请人地址
日本东京都千代田区丸之内2丁目7番3号东京大楼
IPC主分类号
G01N1500
IPC分类号
代理机构
上海市华诚律师事务所 31210
代理人
肖华
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
粒子检测装置及粒子检测方法 [P]. 
细居智树 ;
小原太辅 ;
古谷雅 ;
衣笠静一郎 .
中国专利 :CN105203445B ,2015-12-30
[2]
粒子检测器、粒子检测装置及粒子检测方法 [P]. 
山根武 .
中国专利 :CN114112863A ,2022-03-01
[3]
粒子检测装置和粒子检测方法 [P]. 
饭岛和树 ;
丰岛俊薫 ;
古川琴浩 ;
片山晃治 ;
神尚孝 ;
关实 .
中国专利 :CN110506201B ,2019-11-26
[4]
粒子检测装置以及粒子检测方法 [P]. 
村上久弥 .
中国专利 :CN104165826A ,2014-11-26
[5]
粒子检测辅助方法、粒子检测方法、粒子检测辅助装置和粒子检测系统 [P]. 
川村茂 ;
林辉幸 .
中国专利 :CN101855535A ,2010-10-06
[6]
空气粒子检测装置和空气粒子检测方法 [P]. 
王林 .
中国专利 :CN104749075A ,2015-07-01
[7]
粒子检测装置及粒子检测装置的控制方法 [P]. 
衣笠静一郎 .
中国专利 :CN109313118B ,2019-02-05
[8]
液体中粒子检测装置及液体中粒子的检测方法 [P]. 
小原太辅 ;
古谷雅 .
中国专利 :CN105136673A ,2015-12-09
[9]
光学式粒子检测装置以及粒子的检测方法 [P]. 
衣笠静一郎 .
中国专利 :CN103424343A ,2013-12-04
[10]
光学式粒子检测装置以及粒子的检测方法 [P]. 
衣笠静一郎 .
中国专利 :CN103512863A ,2014-01-15