粒子检测系统以及粒子的检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710076089.3

申请日：

2017-02-13

公开(公告)号：

CN107091795A

公开(公告)日：

2017-08-25

发明(设计)人：

古谷雅小原太辅

申请人：

申请人地址：

日本东京都千代田区丸之内2丁目7番3号

IPC主分类号：

G01N1500

IPC分类号：

代理机构：

上海华诚知识产权代理有限公司 31300

代理人：

肖华

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-08-25	公开	公开
2019-12-27	授权	授权
2017-09-19	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101748780096 IPC(主分类):G01N 15/00 专利申请号:2017100760893 申请日:20170213
2023-01-24	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 15/00 申请日:20170213 授权公告日:20191227 终止日期:20220213

共 50 条

[1]

粒子检测系统以及粒子检测方法 [P].

安池则之 ;

中川贵司 ;

川人圭子 ;

永谷吉祥 .

中国专利 :CN111051853B ,2020-04-21

[2]

粒子检测辅助方法、粒子检测方法、粒子检测辅助装置和粒子检测系统 [P].

川村茂 ;

林辉幸 .

中国专利 :CN101855535A ,2010-10-06

[3]

粒子检测方法以及粒子检测设备 [P].

齐藤进 ;

矶崎久 ;

柿沼隆司 ;

西冈范刚 ;

野田启 .

中国专利 :CN1789971B ,2006-06-21

[4]

粒子检测装置以及粒子检测方法 [P].

村上久弥 .

中国专利 :CN104165826A ,2014-11-26

[5]

光学式粒子检测装置以及粒子的检测方法 [P].

衣笠静一郎 .

中国专利 :CN103424343A ,2013-12-04

[6]

光学式粒子检测装置以及粒子的检测方法 [P].

衣笠静一郎 .

中国专利 :CN103512863A ,2014-01-15

[7]

磁性粒子检测系统及检测方法 [P].

张树林 ;

葛文扬 ;

李华 ;

张名玥 ;

宓现强 .

中国专利 :CN120847690A ,2025-10-28

[8]

生物粒子检测系统及检测方法 [P].

邱子耕 ;

朱育娴 ;

欧阳自坤 ;

杨正仿 .

中国专利 :CN115219491B ,2025-04-25

[9]

粒子检测器、粒子检测装置及粒子检测方法 [P].

山根武 .

中国专利 :CN114112863A ,2022-03-01

[10]

粒子检测装置及粒子检测方法 [P].

细居智树 ;

小原太辅 ;

古谷雅 ;

衣笠静一郎 .

中国专利 :CN105203445B ,2015-12-30

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