对过曝物体表面三维信息测量的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201611192084.9

申请日：

2016-12-21

公开(公告)号：

CN106767407B

公开(公告)日：

2017-05-31

发明(设计)人：

刘顺涛徐静盛鸿陈恳陈雪梅郑林斌何凤涛郭喜锋刘大鹏

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区清华园

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

代理机构：

北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387

代理人：

张向琨

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-06-23	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101729314102 IPC(主分类):G01B 11/00 专利申请号:2016111920849 申请日:20161221
2018-07-24	授权	授权
2017-05-31	公开	公开

共 50 条

[1]

物体表面三维形貌信息测量装置 [P].

黄元庆 ;

万瑾 ;

颜黄苹 .

中国专利 :CN1888817A ,2007-01-03

[2]

用于物体表面三维信息测量的双轴线形光谱共焦系统 [P].

金越 ;

朱嘉诚 ;

陈新华 ;

沈为民 .

中国专利 :CN119085524A ,2024-12-06

[3]

物体表面点三维坐标测量装置及测量方法 [P].

冯玉忠 .

中国专利 :CN106767584A ,2017-05-31

[4]

物体表面三维轮廓结构光测量系统的标定方法 [P].

程筱胜 ;

戴宁 ;

廖文和 ;

崔海华 .

中国专利 :CN100573040C ,2008-08-20

[5]

一种物体表面三维信息重建系统 [P].

方登建 ;

黄陆君 ;

赵平 ;

李彪 ;

申森 ;

唐海龙 ;

黄贵余 ;

潘文武 ;

黄仁兵 ;

许珍 .

中国专利 :CN207570497U ,2018-07-03

[6]

三维物体表面缺陷检测方法 [P].

吴俊 .

中国专利 :CN113096094B ,2024-05-17

[7]

三维物体表面缺陷检测方法 [P].

吴俊 .

中国专利 :CN113096094A ,2021-07-09

[8]

镜面物体表面三维轮廓测量装置和方法 [P].

郭红卫 ;

陈明仪 ;

章亚男 ;

陶涛 ;

杨琦 ;

赵展 .

中国专利 :CN1945204A ,2007-04-11

[9]

用于物体表面三维测量的光投影装置 [P].

朱勇建 ;

廖百军 ;

宋树祥 .

中国专利 :CN106403846B ,2017-02-15

[10]

一种高反射物体表面三维测量方法和系统 [P].

李晨 ;

张旭 ;

屠大维 .

中国专利 :CN106546193A ,2017-03-29

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