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一种高反射物体表面三维测量方法和系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201610889307.0
申请日
:
2016-10-12
公开(公告)号
:
CN106546193A
公开(公告)日
:
2017-03-29
发明(设计)人
:
李晨
张旭
屠大维
申请人
:
申请人地址
:
200444 上海市宝山区上大路99号
IPC主分类号
:
G01B1125
IPC分类号
:
代理机构
:
上海上大专利事务所(普通合伙) 31205
代理人
:
陆聪明
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2017-03-29
公开
公开
2017-04-26
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101715359160 IPC(主分类):G01B 11/25 专利申请号:2016108893070 申请日:20161012
2020-01-17
授权
授权
共 50 条
[1]
一种物体表面三维坐标测量系统以及测量方法
[P].
杨克成
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杨克成
;
鄢淦威
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鄢淦威
;
夏珉
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夏珉
;
郭文平
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郭文平
.
中国专利
:CN110376596B
,2019-10-25
[2]
一种高反射自由曲面非接触测量方法和系统
[P].
张旭
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张旭
;
李晨
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李晨
;
屠大维
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屠大维
.
中国专利
:CN106546192A
,2017-03-29
[3]
一种物体表面三维形貌的测量方法
[P].
谢惠民
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谢惠民
;
刘战伟
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刘战伟
;
李传崴
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李传崴
.
中国专利
:CN103424085A
,2013-12-04
[4]
物体表面三维轮廓结构光测量系统的标定方法
[P].
程筱胜
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程筱胜
;
戴宁
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戴宁
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廖文和
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廖文和
;
崔海华
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崔海华
.
中国专利
:CN100573040C
,2008-08-20
[5]
反光物体表面的三维测量系统及其测量方法和存储介质
[P].
吴伟锋
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吴伟锋
;
王国安
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王国安
;
王明毅
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王明毅
;
陈晓铭
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陈晓铭
;
彭粤龙
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彭粤龙
.
中国专利
:CN114001668B
,2022-02-01
[6]
物体表面点三维坐标测量装置及测量方法
[P].
冯玉忠
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冯玉忠
.
中国专利
:CN106767584A
,2017-05-31
[7]
镜面物体表面三维轮廓测量装置和方法
[P].
郭红卫
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郭红卫
;
陈明仪
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陈明仪
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章亚男
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章亚男
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陶涛
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陶涛
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杨琦
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杨琦
;
赵展
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赵展
.
中国专利
:CN1945204A
,2007-04-11
[8]
一种物体表面三维形貌及形变的测量装置和测量方法
[P].
何杰
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何杰
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靳晓光
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靳晓光
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李翰林
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李翰林
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薛云川
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薛云川
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杨忠平
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杨忠平
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赵茜
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赵茜
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汪宇航
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汪宇航
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杨兵
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杨兵
.
中国专利
:CN115014251A
,2022-09-06
[9]
对过曝物体表面三维信息测量的方法
[P].
刘顺涛
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刘顺涛
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徐静
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徐静
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盛鸿
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盛鸿
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陈恳
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陈恳
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陈雪梅
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陈雪梅
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郑林斌
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郑林斌
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何凤涛
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何凤涛
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郭喜锋
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郭喜锋
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刘大鹏
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刘大鹏
.
中国专利
:CN106767407B
,2017-05-31
[10]
一种物体表面三维形貌及形变的测量装置和测量方法
[P].
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机构:
何杰
;
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机构:
靳晓光
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机构:
李翰林
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薛云川
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机构:
重庆大学
重庆大学
薛云川
;
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机构:
杨忠平
;
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机构:
赵茜
;
汪宇航
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重庆大学
重庆大学
汪宇航
;
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机构:
杨兵
.
中国专利
:CN115014251B
,2024-08-16
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