手动芯片测试座

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201721358158.1
申请日
2018-03-30
公开(公告)号
CN207457284U8
公开(公告)日
2021-10-15
发明(设计)人
李俊敏 李俊强
申请人
申请人地址
523000 广东省东莞市寮步镇凫山金兴路525号7栋1F-A区
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R3128
代理机构
深圳茂达智联知识产权代理事务所(普通合伙) 44394
代理人
夏龙
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
手动芯片测试座 [P]. 
金英杰 .
中国专利 :CN202471762U ,2012-10-03
[2]
芯片测试座 [P]. 
陈凯 .
中国专利 :CN218180924U ,2022-12-30
[3]
芯片测试座 [P]. 
殷凌一 .
中国专利 :CN217007595U ,2022-07-19
[4]
芯片测试座 [P]. 
张勇文 ;
袁小云 .
中国专利 :CN213398670U ,2021-06-08
[5]
一种手动式芯片测试座 [P]. 
周军 ;
王裕昌 ;
佘海霞 ;
丁荣伟 ;
李海珠 ;
陈列 .
中国专利 :CN222482378U ,2025-02-14
[6]
手动芯片测试盖 [P]. 
李俊敏 ;
李俊强 .
中国专利 :CN207380199U ,2018-05-18
[7]
测试座(芯片测试座) [P]. 
李军 ;
李天雨 .
中国专利 :CN308470272S ,2024-02-13
[8]
芯片测试座体 [P]. 
殷凌一 .
中国专利 :CN216979234U ,2022-07-15
[9]
芯片老化测试板及芯片测试座 [P]. 
沈春荣 ;
童兴华 ;
童亮 .
中国专利 :CN222167170U ,2024-12-13
[10]
自动芯片测试机测试座 [P]. 
金英杰 .
中国专利 :CN202748383U ,2013-02-20