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芯片测试座体
被引:0
申请号
:
CN202220321387.0
申请日
:
2022-02-17
公开(公告)号
:
CN216979234U
公开(公告)日
:
2022-07-15
发明(设计)人
:
殷凌一
申请人
:
申请人地址
:
315000 浙江省宁波市鄞州区瞻岐镇南二村振兴路162号一楼
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241
代理人
:
林天哲
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-07-15
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片测试座
[P].
殷凌一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
殷凌一
.
中国专利
:CN217007595U
,2022-07-19
[2]
圆盘式芯片测试座
[P].
殷凌一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
殷凌一
.
中国专利
:CN217007421U
,2022-07-19
[3]
芯片测试座
[P].
陈凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈凯
.
中国专利
:CN218180924U
,2022-12-30
[4]
芯片测试座
[P].
张勇文
论文数:
0
引用数:
0
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0
张勇文
;
袁小云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
袁小云
.
中国专利
:CN213398670U
,2021-06-08
[5]
一种芯片测试座
[P].
王鹤立
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王鹤立
.
中国专利
:CN208782077U
,2019-04-23
[6]
测试座(芯片测试座)
[P].
李军
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
东莞市唯帝信息技术有限公司
东莞市唯帝信息技术有限公司
李军
;
李天雨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞市唯帝信息技术有限公司
东莞市唯帝信息技术有限公司
李天雨
.
中国专利
:CN308470272S
,2024-02-13
[7]
手动芯片测试座
[P].
李俊敏
论文数:
0
引用数:
0
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0
李俊敏
;
李俊强
论文数:
0
引用数:
0
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0
李俊强
.
中国专利
:CN207457284U8
,2021-10-15
[8]
手动芯片测试座
[P].
金英杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金英杰
.
中国专利
:CN202471762U
,2012-10-03
[9]
芯片老化测试板及芯片测试座
[P].
沈春荣
论文数:
0
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0
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机构:
思瑞浦微电子技术(苏州)有限公司
思瑞浦微电子技术(苏州)有限公司
沈春荣
;
童兴华
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
思瑞浦微电子技术(苏州)有限公司
思瑞浦微电子技术(苏州)有限公司
童兴华
;
童亮
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
思瑞浦微电子技术(苏州)有限公司
思瑞浦微电子技术(苏州)有限公司
童亮
.
中国专利
:CN222167170U
,2024-12-13
[10]
自动芯片测试机测试座
[P].
金英杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
金英杰
.
中国专利
:CN202748383U
,2013-02-20
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