芯片测试座体

被引:0
申请号
CN202220321387.0
申请日
2022-02-17
公开(公告)号
CN216979234U
公开(公告)日
2022-07-15
发明(设计)人
殷凌一
申请人
申请人地址
315000 浙江省宁波市鄞州区瞻岐镇南二村振兴路162号一楼
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241
代理人
林天哲
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试座 [P]. 
殷凌一 .
中国专利 :CN217007595U ,2022-07-19
[2]
圆盘式芯片测试座 [P]. 
殷凌一 .
中国专利 :CN217007421U ,2022-07-19
[3]
芯片测试座 [P]. 
陈凯 .
中国专利 :CN218180924U ,2022-12-30
[4]
芯片测试座 [P]. 
张勇文 ;
袁小云 .
中国专利 :CN213398670U ,2021-06-08
[5]
一种芯片测试座 [P]. 
王鹤立 .
中国专利 :CN208782077U ,2019-04-23
[6]
测试座(芯片测试座) [P]. 
李军 ;
李天雨 .
中国专利 :CN308470272S ,2024-02-13
[7]
手动芯片测试座 [P]. 
李俊敏 ;
李俊强 .
中国专利 :CN207457284U8 ,2021-10-15
[8]
手动芯片测试座 [P]. 
金英杰 .
中国专利 :CN202471762U ,2012-10-03
[9]
芯片老化测试板及芯片测试座 [P]. 
沈春荣 ;
童兴华 ;
童亮 .
中国专利 :CN222167170U ,2024-12-13
[10]
自动芯片测试机测试座 [P]. 
金英杰 .
中国专利 :CN202748383U ,2013-02-20