半导体结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202211003987.3
申请日
2022-08-19
公开(公告)号
CN117677184A
公开(公告)日
2024-03-08
发明(设计)人
施志成 张瑞奇 刘欣然
申请人
长鑫存储技术有限公司
申请人地址
230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
H10B12/00
IPC分类号
H01L29/423
代理机构
代理人
法律状态
实质审查的生效
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
金吉松 .
中国专利 :CN115692413A ,2023-02-03
[2]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
金吉松 .
中国专利 :CN115692413B ,2025-11-18
[3]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
金吉松 .
中国专利 :CN115249704B ,2025-05-27
[4]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
肖德元 ;
曹堪宇 .
中国专利 :CN117337024A ,2024-01-02
[5]
半导体结构及其形成方法、版图结构 [P]. 
廖昱程 .
中国专利 :CN117712147A ,2024-03-15
[6]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
古尔巴格·辛格 ;
庄坤苍 ;
王柏仁 .
中国专利 :CN113053884B ,2024-12-24
[7]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
黄腾 .
中国专利 :CN110660673A ,2020-01-07
[8]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
冯道欢 ;
蒋懿 ;
肖德元 .
中国专利 :CN118870800A ,2024-10-29
[9]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
陈彦羽 ;
程仲良 .
中国专利 :CN113314611B ,2025-03-04
[10]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
黄猛 .
中国专利 :CN117545270A ,2024-02-09