石墨膜材缺陷检测方法和石墨膜材缺陷检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311848486.X

申请日：

2023-12-28

公开(公告)号：

CN117788935A

公开(公告)日：

2024-03-29

发明(设计)人：

邓东升唐永亮孙天齐

申请人：

深圳市凌云视迅科技有限责任公司

申请人地址：

518055 广东省深圳市南山区桃源街道长源社区学苑大道1001号南山智园C2栋1001

IPC主分类号：

G06V10/764

IPC分类号：

G06T7/00 G06V10/42 G06V10/774

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

王瀚

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/764申请日:20231228
2024-03-29	公开	公开

共 50 条

[1]

增材制造的缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

郭师峰 ;

冯伟 ;

吕高龙 ;

张艳辉 ;

徐天添 ;

李岩 ;

吴新宇 .

中国专利 :CN110954542A ,2020-04-03

[2]

一种离子膜缺陷检测装置及离子膜缺陷检测方法 [P].

桂其迹 ;

陈荣科 ;

贺慧敏 ;

杨凤炳 .

中国专利 :CN120102020A ,2025-06-06

[3]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

杨航 .

中国专利 :CN117808765A ,2024-04-02

[4]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

太田佳成 .

中国专利 :CN101251496A ,2008-08-27

[5]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

中田武男 ;

太田祥之 ;

中野竜辅 .

日本专利 :CN118511070A ,2024-08-16

[6]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

本田喜久 .

中国专利 :CN1565033A ,2005-01-12

[7]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

李旭为 ;

李宝同 ;

李小龙 ;

王凯 ;

陆佳磊 ;

张聪 .

中国专利 :CN120259174A ,2025-07-04

[8]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

濑户基司 ;

村上浩明 .

中国专利 :CN107064724A ,2017-08-18

[9]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

远藤一正 ;

持田大作 ;

吉川透 ;

柴田浩匡 ;

河井章利 .

中国专利 :CN101490538A ,2009-07-22

[10]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

李旭为 ;

李宝同 ;

李小龙 ;

张聪 ;

陆佳磊 ;

王凯 .

中国专利 :CN120088225A ,2025-06-03

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