一种半导体检测用探针台

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311699087.1
申请日
2023-12-12
公开(公告)号
CN117388544A
公开(公告)日
2024-01-12
发明(设计)人
赖生雄
申请人
扬州奕丞科技有限公司
申请人地址
225200 江苏省扬州市江都区大桥镇桃园路1号经济开发区中小企业园3号楼1楼
IPC主分类号
G01R1/067
IPC分类号
G01R1/04 G01R31/28
代理机构
北京文嘉知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11954
代理人
阳志全
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体检测用探针台 [P]. 
赖生雄 .
中国专利 :CN117388544B ,2024-03-15
[2]
一种半导体检测用探针台 [P]. 
朱丽华 ;
曹祥俊 .
中国专利 :CN113970658A ,2022-01-25
[3]
一种半导体检测用探针台 [P]. 
朱丽华 ;
曹祥俊 .
中国专利 :CN113970658B ,2024-02-23
[4]
一种半导体检测探针平台 [P]. 
肖遵保 ;
许建亚 .
中国专利 :CN210534002U ,2020-05-15
[5]
一种半导体检测探针平台 [P]. 
肖遵保 ;
许建亚 .
中国专利 :CN110687115A ,2020-01-14
[6]
半导体检测用探针平台 [P]. 
林艺宾 .
中国专利 :CN115078776A ,2022-09-20
[7]
一种半导体检测用探针平台 [P]. 
李云峰 .
中国专利 :CN214895454U ,2021-11-26
[8]
一种半导体检测用四探针 [P]. 
孙铭 .
中国专利 :CN212483756U ,2021-02-05
[9]
一种半导体检测用四探针 [P]. 
杨博 .
中国专利 :CN213398671U ,2021-06-08
[10]
半导体检测装置用接触式探针 [P]. 
伊藤弘高 ;
山本兼司 .
中国专利 :CN102023241B ,2011-04-20