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一种半导体检测用探针台
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202311699087.1
申请日
:
2023-12-12
公开(公告)号
:
CN117388544A
公开(公告)日
:
2024-01-12
发明(设计)人
:
赖生雄
申请人
:
扬州奕丞科技有限公司
申请人地址
:
225200 江苏省扬州市江都区大桥镇桃园路1号经济开发区中小企业园3号楼1楼
IPC主分类号
:
G01R1/067
IPC分类号
:
G01R1/04
G01R31/28
代理机构
:
北京文嘉知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11954
代理人
:
阳志全
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-01-30
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/067申请日:20231212
2024-01-12
公开
公开
2024-03-15
授权
授权
共 50 条
[1]
一种半导体检测用探针台
[P].
赖生雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
扬州奕丞科技有限公司
扬州奕丞科技有限公司
赖生雄
.
中国专利
:CN117388544B
,2024-03-15
[2]
一种半导体检测用探针台
[P].
朱丽华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱丽华
;
曹祥俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曹祥俊
.
中国专利
:CN113970658A
,2022-01-25
[3]
一种半导体检测用探针台
[P].
朱丽华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳台达创新半导体有限公司
深圳台达创新半导体有限公司
朱丽华
;
曹祥俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳台达创新半导体有限公司
深圳台达创新半导体有限公司
曹祥俊
.
中国专利
:CN113970658B
,2024-02-23
[4]
一种半导体检测探针平台
[P].
肖遵保
论文数:
0
引用数:
0
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0
肖遵保
;
许建亚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
许建亚
.
中国专利
:CN210534002U
,2020-05-15
[5]
一种半导体检测探针平台
[P].
肖遵保
论文数:
0
引用数:
0
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0
肖遵保
;
许建亚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
许建亚
.
中国专利
:CN110687115A
,2020-01-14
[6]
半导体检测用探针平台
[P].
林艺宾
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林艺宾
.
中国专利
:CN115078776A
,2022-09-20
[7]
一种半导体检测用探针平台
[P].
李云峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李云峰
.
中国专利
:CN214895454U
,2021-11-26
[8]
一种半导体检测用四探针
[P].
孙铭
论文数:
0
引用数:
0
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0
孙铭
.
中国专利
:CN212483756U
,2021-02-05
[9]
一种半导体检测用四探针
[P].
杨博
论文数:
0
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0
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0
杨博
.
中国专利
:CN213398671U
,2021-06-08
[10]
半导体检测装置用接触式探针
[P].
伊藤弘高
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0
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0
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伊藤弘高
;
山本兼司
论文数:
0
引用数:
0
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0
山本兼司
.
中国专利
:CN102023241B
,2011-04-20
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